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    微焦点X射线检测系统电子元器件检测

    电子元器件检测系统是一种使用X射线技术对电子元器件进行非破坏性检测的系统。它通过发射高能X射线束照射待测元器件，并利用X射线的透射、散射和吸收等现象，获取元器件内部的结构、缺陷或异常情况的信息。

    更新时间：2023-09-14
    产品型号：微焦点X射线检测系统
    浏览量：27036
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