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    X射线无损探伤

    X射线无损探伤是一种利用X射线穿透物体并通过检测和分析所产生的X射线图像来评估物体内部结构和缺陷的技术。它可以用于检测材料中的裂纹、气孔、夹杂物等缺陷，以及评估物体的完整性和质量。

    更新时间：2023-09-14
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